根據PVEL產品認證計劃(PQP)的組件可靠性測試結果,晶科能源的N型TOPCon雙面雙玻組件(產品型號:JKM555N-72HL4-BDV)在各項測試中表現不俗,尤其是在DH2000——+BO恢復后組件功率衰減極低,獲得了“最佳表現組件”的稱號。
根據PVEL對數百種不同品牌組件進行的DH2000測試結果顯示,不同技術(包括PERC、TOPCon、HJT和CdTe)的平均衰減率為1.2%至1.7%,而晶科能源的N型TOPCon雙面組件的平均衰減率僅為0.55%,在所有測試組件中最低。
PVEL的濕熱(DH)測試模擬了典型的高溫高濕環境下濕氣的長期滲透對組件電池及封裝材料的性能影響,當低質量的組件或不合格的層壓工藝導致封裝材料失效時,濕氣會滲入組件并腐蝕內部材料,可能導致產品性能失效和使用安全問題。
DH2000是一種可靠性測試,將組件放置在85°C高溫和85%濕度的環境箱中,持續測試2000小時。該測試的持續時間是IEC認證所要求的兩倍,目的是為了驗證高溫和高濕條件下光伏組件電池及封裝材料的可靠性。